更新時(shí)間:2024-03-04
WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)一般用來測(cè)量700~3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時(shí)的溫度,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優(yōu)點(diǎn)。
· WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)由上海自動(dòng)化儀表三廠*生產(chǎn)制造,我廠生產(chǎn)的光學(xué)高溫計(jì),又稱“非接觸式高溫儀表”,一般用來測(cè)量700~3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時(shí)的溫度,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優(yōu)點(diǎn)。本廠愿竭誠(chéng)心為國(guó)內(nèi)外客商提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)良的技術(shù)服務(wù)!
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
WGG2-201N型數(shù)顯光學(xué)高溫計(jì)是非接觸式測(cè)量高溫的儀表,當(dāng)被測(cè)量的溫度高于熱電偶所能使用的范圍,以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場(chǎng)所,用光學(xué)高溫計(jì)一般可以滿足這個(gè)要求。它廣泛地用來測(cè)量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等溫度,是冶金、化工和機(jī)械等工業(yè)生產(chǎn)過程中*的溫度測(cè)量?jī)x表之一,并符合JB/T2167-1999標(biāo)準(zhǔn)。
【WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)主要技術(shù)指標(biāo)】
型號(hào)及名稱:
測(cè)溫范圍:1200~3200℃
制造商:上海自動(dòng)化儀表三廠
質(zhì)保期限:壹年
【型號(hào)規(guī)格】
1、測(cè)量范圍和允許的基本誤差
產(chǎn)品型號(hào) | 測(cè)量范圍℃ | 量程 | 允許基本誤差℃ | |
WGG2-201N | 700-2000 | 1 | 700-800 | ±33 |
800-1500 | ±22 | |||
2 | 1200-2000 | ±30 | ||
WGG2-323N | 1200-3200 | 1 | 1200-2000 | ±30 |
2 | 1800-3200 | ±80 |
2、工作電壓:3V(兩節(jié)1#干電池)
3、工作距離:不小于0.7m
4、工作環(huán)境:溫度為10-50℃,相對(duì)濕度不大于80%
5、外形尺寸:252*140*164mm
【結(jié)構(gòu)與原理】
產(chǎn)品的原理基于維恩公式,采用已知溫度的亮度(高溫計(jì)燈泡的燈絲的亮度)與被測(cè)物體的亮度進(jìn)行比較來測(cè)量物體的溫度,通過光學(xué)系統(tǒng)在一定波段(0.66μm)范圍比較燈絲與被測(cè)物體的表明亮度,使燈絲的亮度和被測(cè)物體的亮度相均衡,采用數(shù)字檢測(cè)及顯示技術(shù)讀出物體的亮度溫度。
數(shù)字顯示式光學(xué)高溫計(jì)由光學(xué)系統(tǒng)和電測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成,結(jié)構(gòu)如圖一所示:
1. 進(jìn)行亮度平衡時(shí),應(yīng)使燈絲的頂部亮度進(jìn)行平衡,否則會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。
2. 瞄準(zhǔn)被測(cè)物體,接通電源,使用S鍵(量程鍵)切換量程,根據(jù)吸收玻璃旋鈕2的指向進(jìn)行選擇。
3. 旋轉(zhuǎn)滑線電阻盤3,使燈絲的電流逐漸的增大,調(diào)節(jié)燈絲的亮度到燈絲頂部的象隱滅在被測(cè)物體的象中,讀取顯示的溫度值。光學(xué)高溫計(jì)燈泡燈絲的隱滅情況如圖四所示。
為了獲得正確的讀數(shù),應(yīng)該逐漸的調(diào)節(jié)高溫計(jì)燈泡燈絲的電流,先從從暗到亮,從亮到暗反復(fù)兩次,每次調(diào)整到燈絲隱滅時(shí)讀出溫度值,然后將四次讀數(shù)的平均值作為被測(cè)物體的亮度溫度。
4. 數(shù)據(jù)處理
當(dāng)需要存儲(chǔ)當(dāng)前的數(shù)據(jù)時(shí),要在松開電源開關(guān)7后,按下M/R鍵10(存儲(chǔ)再讀鍵),此次的測(cè)量溫度值被記錄,一共可以存儲(chǔ)十組數(shù)據(jù)。當(dāng)需要查看以前的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí),在關(guān)機(jī)后按下M/R鍵10,進(jìn)入數(shù)據(jù)回現(xiàn)模式,自動(dòng)顯示zui近一次保存的數(shù)據(jù),每按一次M/R鍵,顯示上一次保存的數(shù)據(jù),顯示完十個(gè)數(shù)據(jù)后自動(dòng)跳回*個(gè)數(shù)據(jù),如圖所示:
5. 求出真實(shí)溫度
光學(xué)高溫計(jì)是按黑體進(jìn)行溫度刻度的,但在實(shí)際使用中,大部分被測(cè)物體的單位發(fā)射率?λ都小于1,故用光學(xué)高溫計(jì)測(cè)得的亮度溫度S℃總是低于該物體的真實(shí)溫度T℃需要按照附表2修正曲線加以修正。
修正公式:
真實(shí)溫度T℃=光學(xué)高溫計(jì)讀數(shù)S℃+溫度修正值Δt℃
物體的真實(shí)溫度T℃和其亮度溫度S℃及單色發(fā)射率ελ的關(guān)系式如下:
1 T+273 | = | 1 S+273 | +1.0404×10-4logελ |
修正方法:
根據(jù)被測(cè)對(duì)象,從附表1中查出其單色發(fā)射率?λ。由高溫計(jì)的zui終讀數(shù)S℃,從曲線圖的橫坐標(biāo)中查出其對(duì)應(yīng)位置,再?gòu)目v坐標(biāo)中查出對(duì)應(yīng)S℃及該種物體的的單色發(fā)射率?λ時(shí)的溫度修正值?t℃。由修正公式求出其真實(shí)溫度T℃。
6. 關(guān)機(jī)
當(dāng)光學(xué)高溫計(jì)在待機(jī)15s后,無任何操作,即可關(guān)機(jī)。
附表1.有效波長(zhǎng)λ=0.66μm時(shí)各種金屬材料的單色輻射率
材料名稱 | 表面無氧化層 | 有氧化層光滑表面 | |
固態(tài) | 液態(tài) | ||
鋁 | — | — | 0.22~0.4 |
銀 | 0.07 | 0.07 | — |
銅 | 0.35 | 0.37 | 0.8 |
鑄鐵 | 0.37 | 0.4 | 0.7 |
銅 | 0.1 | 0.15 | 0.6~0.8 |
康銅 | 0.35 | — | 0.84 |
鎳 | 0.36 | 0.37 | 0.85~0.96 |
鎳鉻合金 | |||
90%Ni,10%Cr | 0.35 | — | 0.87 |
80%Ni,20%Cr | 0.35 | — | 0.90 |
鎳鉻合金 | |||
95Ni,Al,Mn,Si | 0.37 | — | — |
磁器 | — | — | 0.25~0.50 |
石墨(粉狀) | 0.95 | — | — |
碳 | 0.80~0.93 | — | — |
附表2. 光學(xué)高溫計(jì)讀數(shù)修正曲線圖
【應(yīng)用范圍】
適用于各種冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等現(xiàn)場(chǎng)溫度測(cè)量。
【高溫計(jì)使用注意事項(xiàng)】
(1)盡量避免黑度系數(shù)的影響。光學(xué)高溫計(jì)的標(biāo)尺是按黑體標(biāo)定的.而實(shí)際的被測(cè)物體都不是黑體,儀表的讀數(shù)應(yīng)當(dāng)技式(3-50)進(jìn)行修正、求出真實(shí)據(jù)度。由于黑度系數(shù)與物體的材質(zhì)、表面狀況、溫度及波長(zhǎng)等有關(guān),雖然一些書籍中列入了某些材彩的q值,也只告訴廠一個(gè)估值范圍,實(shí)際應(yīng)用中較難估計(jì)準(zhǔn)確。為了減少這一測(cè)量誤差,可以在測(cè)量中使被測(cè)對(duì)象盡可能地接近黑體。例如,從滬門上的小孔觀測(cè)爐膛內(nèi)部空間的溫度,可以認(rèn)為其黑度系數(shù)近似為1,根據(jù)式(3—50),儀表示值就基本上是護(hù)膛內(nèi)的真實(shí)溫度,無須加以修正了。
(2)盡量減少中間介質(zhì)的吸收。被測(cè)物體至高溫計(jì)之間的水蒸氣、二氧化碳;灰塵等均會(huì)吸收被測(cè)物體的輻射能,減弱到達(dá)高溫計(jì)的亮度,使測(cè)量結(jié)果低于實(shí)際溫度,因此.應(yīng)當(dāng)盡可能在清潔環(huán)境中測(cè)量,以克服中間介質(zhì)吸收的影響。
(3)測(cè)量距離的限制。由于中間介質(zhì)的影響存在,測(cè)量距離忿大,造成的誤差也愈大。另一方面根據(jù)儀器光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求,測(cè)量距離要大于700mm,因此,光學(xué)高溫計(jì)的測(cè)量距離在 1-2m內(nèi)為好。
(4)防止非自身輻射的影響。如果到達(dá)光學(xué)高溫計(jì)的輻射線不僅有被測(cè)物自身的輻射,還有其它物體發(fā)出經(jīng)被測(cè)物體表面反射而進(jìn)入物鏡的射線時(shí),使測(cè)量結(jié)果高于實(shí)際物體溫度。
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